美(mei)國(guo)國(guo)家航空和宇宙航行局(ju)（NASA）采用產(chan)品

IEC61340-2-1標準規范的(de)模板設備(bei)

可以測試固體，粉體，液體材(cai)料(liao)的靜(jing)電衰減時間

同(tong)時測試(shi)靜電衰減時間和電容負(fu)載

可直(zhi)接放(fang)置(zhi)在成型(xing)材料上測(ce)試

量程：10毫秒-99小時(shi)

分辨率：10毫秒

電暈放電電壓：0-9.9KV（可以選擇正負極性）

衰減比(bi)例：可(ke)設置1%-99%

同時測量環境溫濕度

特別設(she)計氣(qi)閘效應，消除殘(can)留(liu)空氣(qi)離子(zi)干(gan)擾(rao)

高精度(du)靜(jing)電壓測(ce)試探頭

配套JCI176樣品臺可測量轉移到測試料樣上的電量，并計算出電容負載(zai)

配套JCI173樣品杯可以(yi)測(ce)量(liang)粉體和液(ye)體的靜(jing)電衰減(jian)期(qi)

配套JCI-Graph軟件遠(yuan)端(duan)控制儀器，顯示數(shu)據和衰減曲線，形成報告，分析/打印(yin)/儲存數(shu)據。